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    i-CHEQ F2-5100--无损样品分析 一键式检测
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    产品: 浏览次数:18028i-CHEQ F2-5100--无损样品分析 一键式检测 
    品牌: 艾克
    数据处理: 8G大容量数据存储卡
    重量: 1.5kg
    探测器: 高性能高分辨率Si-pinX射线探测器
    单价: 面议
    最小起订量: 1 台
    供货总量: 1 台
    发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
    有效期至: 长期有效
    最后更新: 2023-08-03 13:45
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    详细信息

    艾克手持式合金分析仪设计:

    1. “一键式”开机并检测。

    2. 重量轻、体积小,检测头为尖嘴设计,适用于狭小部位。

    3. 可进行现场无损样品分析,确定样品中的元素种类。

    4. 开机一次,待机长不用关闭电源,无检测操作时自动待机,同时光管及探测器断电停止工作。

    5. 1/3机身为轻质铝合金结构,具有优良的散热效果。

    6. 开机优于同类仪器;测试速度快,1-3秒内身份等级鉴定。

    仪器工作原理说明

    xrf就是x射线荧光光谱分析仪(x ray fluorescence sperometer) 。

    人们常常把x射线照射在物质上所产生的次级x射线叫x射线荧光,而把用来照射的x射线叫原级x射线。

    当能量高于原子内层电子结合能的高能x射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。

    当较外层的电子跃入内层空所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生x射线荧光(特征x射线),其能量等于两能级之间的能量差。

    特征x射线荧光产生:碰撞→跃迁↑(高) →空→跃迁↓(低)

    不同元素发出的特征x射线荧光能量和波长各不相同,因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。


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