依科诗朗 Yxlon 设计、制造和销售高端 3D X-RAY射线和 CT 系统解决方案,为工业环境提供集成服务 - 从研发实验室到生产环境。在航空航天、汽车和电子行业、材料科学行业的制造商依靠 Comet Yxlon 来最DA限度地提高其产品质量和生产效率。
FF35 CT灵活检测非常小到中等尺寸的零件
FF35 CT 亮点
单管或双管配置,在实验室显微 CT 应用中具有最高的多功能性
只需按一下按钮,即可在几秒钟内在 225 kV 微焦点和 190 kV 纳米焦点管之间切换
由于基于花岗岩的处理和空调,结果准确
通过软件平台 Geminy 实现各种 CT 轨迹和 FoV 扩展,应用灵活
带 MPE 的可选计量版本标清= 5.9 微米 + L/75 [L 单位 mm]
提供符合半导体市场标准的 FF35 CT SEMI 版本
新增功能!最da样品重量现在高达 50 kg - 也可作为升级提供
FF35 CT 可以检查哪些物品?
电子元件,包括 SMD
涉及新材料或新制造方法的商品,例如增材制造组件、纤维增强塑料
电芯和模块
注塑成型塑料
微系统(MEMS、MOEMS)
医疗物品,例如插管
轻合金铸件
地质、古生物和生物样本
FF35 CT 适用于哪些应用?
质量保证、材料分析和研究
失效和结构分析
装配检查
小批量生产的检验
过程控制
数字化
分割
FF35 CT SEMI:专为半导体领域的应用而开发
Comet Yxlon FF35 CT SEMI X 射线系统是一款创新的多功能高分辨率 CT 系统,适用于研发和质量保证。它是专门为半导体相关行业的检查而开发的。FF35 CT SEMI满足高SEMI®标准,包括危险和安全标准SEMI® S2-0818和SEMI® S8-0218,并已获得相应认证。
使用 FF35 CT Metrology 测量最精细的内部结构
Comet Yxlon FF35 CT Metrology 将基于 CT 的尺寸控制精度(例如,最精细内部结构的测量)提升到一个新的水平。它在一次 CT 扫描中捕获几乎无限的测量点,与测量评估分离。无缝缺陷分析和设计件-实物比较可节省时间,减少产品抽样的校正循环和校正成本。FF35 CT 计量仪符合 VDI/VDE 2630 标准。
技术参数
属性 | 相关数据 |
样品直径 | 530 [mm] (20.9") |
样品高度 | 800 [mm] (31.5") |
最DA样品重量 | 50 [kg] |
系统尺寸 | 2960 x 1590 x 2120 [mm] |
X射线管 | 225 kV 定向射束管, 额外可选配 190 kV 透射管 |
CT 模式 | Cone-beam CT锥束CT扫描, QuickScan快速扫描, QualityScan质量扫描, HeliExtend螺旋扩展扫描, FlexCenter (virtual rotation axis)虚拟中心扫描, ZoomScan动态变物距扫描, LayerScan分层扫描, ScanExtend (FoV extensions)扫描扩展, Volume crop体积裁剪 |
基台 | 大理石基台, 主动式气垫, 6 - 8 轴, 大范围 FDD |