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东莞市天测光学设备有限公司

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	VIEW BenchMark 250影像测量仪 BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.0+5L/1000)微米	2023-11-12
	VIEW BenchMark 450影像测量仪 BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z精度:E1=(2.0+8L/1000)微米（带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公	2023-11-12
	VIEW Pinnacle+ Plus超高精度的尺寸测量系统 VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微	2023-11-12
	VIEW Benchmark XLT 大行程非接触式计量系统 XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围，可以测量大面积组件和多个小组件的组合群体。其某先某进的光学,	2023-11-12
	VIEW Pinnacle 250影像测量仪 VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非某凡的精度和生产率，优某异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中某低的购置成本。其独某	2023-11-12
	MicroLine 1000/2000/3000关键尺寸测量 ■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm	2023-11-12
	VIEW Benchmark300 影像测量仪 XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力：30 kg光学镜头：单放大倍率，固定倍率固定镜头光学与工厂可配置	2023-11-12
	Summit 450/600/625/800影像测量仪 Summit450/600/625/800 参数介绍： XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um (E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺) Z 线性精度: E1=(1.8+5L/	2023-11-12

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